SRM3600小角度X射線散射強度(nist標準品)

SRM3600小角度X射線散射強度(nist標準品)旨在用于小角度 X 射線散射 (SAXS) 儀器的散射強度校準。 SAXS 測量表征了異質材料系統的微觀結構和納米結構：特別是微米級和納米級特征的尺寸分布，以及散射強度校準，它們的體積分數或數量濃度，以及它們的表面積 [1]。

 SRM 3600 的一個單元由一個大約尺寸為 10 mm x 10 mm x 1 mm 的玻璃碳試樣組成。

認證值是絕對 X 射線散射強度，以每單位玻璃碳樣品體積的 X 射線微分散射截面 dΣ/dΩ 與散射矢量的幅度 Q 的關系給出.圖 1 顯示了超小角 X 射線散射 (USAXS) 儀器的示意圖，該儀器是用于測量經認證的 X 射線散射強度值的主要儀器。經認證的 dΣ/dΩ 值列于表 1 中經認證的 Q 范圍為 0.008 ?–1 至 0.25 ?–1，并繪制在圖 2 中。 NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調查或考慮 [2]。認證值基于在環境條件下進行的測量。

SRM3600小角度X射線散射強度(nist標準品)試樣的平均厚度是 1.055 毫米 ± 0.025 毫米，基于對 56 個試樣中的每一個進行兩次獨立的微米厚度測量。與數值一起列出的不確定性是覆蓋因子 k = 2 的擴展不確定性，對應于 95% 的置信區間，預期單個試樣，并且來自重復測量的標準偏差。信息值被認為是可能對 SRM 用戶有用的值，但沒有足夠的信息來評估與該值相關的不確定性或僅是有限的

SRM3600小角度X射線散射強度(nist標準品)應儲存在提供的塑料膜盒內，環境干燥，遠離過多的水分或熱量（最高 60 °C）。 SRM 3600 玻璃碳材料已被證明可在較長時間內保持穩定，用于校準目的，在這些儲存條件下具有無限的保質期 [5]。

要使用 SRM 3600 使用帶有二維 (2D) 位置敏感檢測器 (PSD) 的傳統 SAXS 儀器為“未知"樣品提供 SAXS 強度校準，必須遵循幾個步驟。使用根據需要使用衰減器來保護 2D PSD 免受入射 X 射線束的影響（空白、樣品和標準品的衰減相同），測量樣品 TS 和標準品 TSTD 相對于入射光束（空白) 在 Q = 0 處測量的強度，其中 Q = (4π/λ)sinθ，λ 是 X 射線波長，θ 是一半散射角 [1]。還可以從這些傳輸測量中確定 2D PSD 上的入射光束位置。然后，用一個光束擋板保護 2D PSD 免受入射 X 射線束的影響，在相同條件下對“未知"樣品、空白（不存在樣品）和電子背景（X 射線）進行 SAXS 測量光束關閉）和 SRM 3600 標準試樣。將每個 2D PSD 像素的所有測量強度歸一化為入射光束強度，然后減去每個像素的電子背景。對于樣品和標準品，分別減去每個 PSD 像素的空白散射，分別由因子 TS 或 TSTD 衰減。然后相對于探測器上的入射光束位置（Q = 0 的位置）對 2D PSD 數據進行循環平均，并除以各自的透射率 TS 或 TSTD 以及樣品或標準厚度 τS 或 τSTD。請注意，對于 SRM 3600，應使用 τSTD = 1.055 mm。